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    CSK-IB試塊

    CSK-IB試塊

    產品特點:CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的

    產品型號:
    更新時間: 2020-12-14
    訪問次數: 122
    產品詳情
    品牌其他品牌價格區間面議
    產地類別國產應用領域化工,石油,航天,電氣,綜合

    CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分 辨力。

     

     CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分 辨力。

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