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    CSK-IA  試塊(20鋼)含支架

    CSK-IA 試塊(20鋼)含支架

    產品特點:CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

    產品型號:
    更新時間: 2021-01-27
    訪問次數: 184
    產品詳情
    品牌自營品牌價格區間面議
    儀器種類其他產地類別國產
    應用領域化工,石油,航天,電氣,綜合

    CSK-IA 試塊使用說明及測試方法

    水平線性(時基線性)的檢驗

    水平線性又稱時基線性,或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏時基線上回波的間隔成正比關系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當,并具有兩個相互平行的大平面的試塊,用縱波直探 頭獲得多次回波,并將規定次數的兩個回波調整到與兩端的規定刻度線對 齊,之后,觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:

    (1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上,對準 25mm 厚的大平底面, 如圖 a 所示

    (2)調整微調、水平或脈沖移位等旋鈕,使示波屏上出現五次底波 B1  B5,且使 B1 對準 2.0,B5 對準10.0,如圖 b 所示

    (3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。

    (4)計算水平誤差:公式

     

    式中,amax——a2,a3,a4 中大者 b——示波屏水平滿刻度值

    調整橫波掃描速度和探測范圍

     

    由于縱波的聲程 91mm 相當于橫波聲程 50mm,因此可以利用試塊 上 91mm 來調整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1,先用直探頭 對準 91 底面,是 B1、B2 分別對準 50、100,然后換上橫波探頭并對準 R100 圓弧面,找到回波,并調至 100 即可。

     

    測定儀器與直探頭遠場分辨力

    (1)抑制旋鈕調至“0”,探頭置于如圖所示位置,左右移動探頭, 使顯示屏上出現 85、91、100 三個反射回波A、B、如圖所示,則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。

    (2)NB/T47013-2015 中規定,直探頭遠場分辨力大于等于 20dB。

     

    盲區的估計

    盲區是指小的探測距離,測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置,測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計出盲區小于等于 5mm 或 大于等于 10mm,或者介于兩者之間。

     

    大穿透能力估計

    將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置,將儀器個靈敏度旋鈕均置于大, 測試試塊中有機玻璃塊反射波次數和后一次反射波高度。以此來估計 大穿透力,借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

     

     

     

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